2017年

• 年次大会 大阪大学 (3月 17日-20日)

  • (D3 堀口 朋裕)
  • (M1 佐藤 瑶)
  • (D2 キザンキ　トマス)

2016年

• 年次大会 東北学院大学 (3月 19日-22日)

  • 国際リニアコライダーのためのFine Pixel CCD崩壊点検出器の中性子耐性評価 (M2 村井峻亮)

2015年

• 秋季大会 大阪市立大学 (9月 25日-28日)

  • Belle II 実験におけるシリコンストリップ型崩壊点検出器組み立てのためのフレキシブル基板の折り曲げ手法の確立

• 年次大会 早稲田大学 (3月 21日-24日)

  • モデル依存の無いDalitz解析を用いた、CP非保存パラメターφ₃測定に向けたB⁰→D[K_Sππ]K^*[K⁺π^-]崩壊の研究
  • ILCにおける崩壊点検出器のための試作FPCCDの中性子照射耐性の研究
  • 国際リニアコライダーを用いたヒッグス三重項模型における荷電ヒッグス粒子の探索
  • 国際リニアコライダーにおけるヒッグスCP混合の測定精度の解析

2014年

• 年次大会 東海大学 (3月 27日-30日)

  • 準包括的再構成法を用いたB→X_sγの崩壊分岐比の測定 (D3 齋藤 智之)
  • 国際リニアコライダーにおけるトップ対生成閾値領域のシミュレーション解析(M2 堀口 朋裕)
  • ILCにおけるFPCCD崩壊点検出器のためのトラックファインダー開発とフレーバータグ性能評価 (M2 森 達哉)
  • 国際リニアコライダー崩壊点検出器のための試作FPCCDに対する中性子照射試験(M1 伊藤 周平)
  • ILCにおける荷電ヒッグスを用いたヒッグス三重項模型の探索(M1 新崎 ゆう子)
  • 国際リニアコライダーにおけるZH->l⁺l^-Hイベントを用いたヒッグス粒子の質量・断面積の精密測定(M1 綿貫 峻)

2013年

• 秋季大会 高知大学 (9月 20日-23日)

  • B^±->DK^±, D->K_sK^±±^±崩壊のダリッツ平面解析を用いたCP非保存角Φ₃の測定 (D3 鈴木　善明)
  • 準包括的再構成法を用いたB->Xs γ の崩壊分岐比の測定 (D3 齋藤　智之)
  • B->Ks η γ 崩壊過程における時間依存 CP 非対称性の測定 （D3 中野　浩至）
  • モデル依存の無いDalitz解析を用いた Φ₃測定に向けたB⁰->[Ks π π]_D[K⁺π⁻]_K*0崩壊の研究 (D3 根岸　健太郎)
  • 国際リニアコライダーにおけるトップクォーク 対生成閾値領域の研究 (M2 堀口　朋裕)
  • 国際リニアコライダーのためのFPCCD崩壊点検出器のシミュレーションによる性能評価とソフトウェア開発 (M2 森　達哉)
  • 国際リニアコライダーにおけるヒッグスの質量・断面積・およびCP混合の解析(M1 綿貫 峻)

• 年次大会 広島大学 (3月 26日-29日)

  • 準包括的再構成法を用いたB->Xsl+l- 崩壊を用いたレプトン前後非対称度の測定 (D3 佐藤　優太郎)
  • B0->D*pi崩壊事象を用いたCP対称性破れの測定 (D3 板垣　憲之輔)
  • Belle2実験に向けたSOI検出器：PIXORの全体動作確認試験 (M1 篠田　直幸)
  • 国際リニアコライダーにおけるトップ対生成閾値領域のシミュレーション解析 (M1 堀口　朋裕)
  • 国際リニアコライダーのためのFPCCD崩壊点検出器のシミュレーションによる性能評価 (M1 森　達哉)

2012年

• 秋季大会 京都産業学院大学 (9月 11日-14日)

  • 準包括的再構成法を用いたB->Xsl+l- 崩壊におけるレプトン前後非対称性の測定 (D3 佐藤　優太郎)
  • Belle2実験におけるシリコンストリップ崩壊点検出器用読み出しボードFTBの開発と性能評価 (D2 齋藤　智之)
  • 時間依存CP非保存測定に向けたB0->Ks eta gamma 崩壊過程再構成の最適化 (D2 中野　浩至)
  • [企画講演]高エネルギー実験のためのSOI検出器を用いたPIXIO(Pixel OR)半導体検出器の研究開発 (D1 小野　善将)
  • ILC崩壊点検出器の為の高精細CCDセンサー及び読み出し回路の研究 (D1 加藤　恵理子)
  • 高エネルギー加速器実験に向けたSOI検出器：PIXORの全体動作確認試験 (M1 篠田　直幸)

• 年次大会 関西学院大学 (3月 24日-27日)

  • B0->D*pi崩壊を用いたCP対称性の破れの測定の研究 (D2 板垣　憲之輔)
  • B->DK、D->KsKpi崩壊を使ったCP非保存角phi3の測定のためのD*->Dpi、D->KsKpi崩壊のDalitz plot解析 (D2 鈴木　善明)
  • 準包括的再構成法を用いたB->Xs gamma の崩壊分岐非と非対称度の測定 (D1 齋藤　智之)
  • 高エネルギー加速器実験に向けてのSOI検出器PIXOR1の試験評価(M2 小野　善将)
  • ILCのための高精細CCD読み出し回路の研究 (M2 加藤　恵理子)